薄膜・表面物理セミナー「有機機能性材料・デバイスの薄膜・表面分析」

応用物理学会 薄膜・表面物理分科会主催の第37回　薄膜・表面物理セミナー（2009）「有機機能性材料・デバイスの薄膜・表面分析」が、6月26日に東工大大岡山キャンパスで開催されます。

担当幹事の一人が中村なので、薄膜・表面物理分科会の行事ながら内容がどっぷりと有機エレクトロニクス材料です。

プログラム：
XPSにおける有機材料の試料損傷（仮） 當麻 肇（日産アーク）
XPSとTOF-SIMSによる高分子薄膜材料解析の最新技術 前川 敏彦（富士フイルム）
クラスターイオンを用いた有機材料の質量分析（仮） 平岡 賢三（山梨大）
MALDI-MSによる有機薄膜材料の構造解析 田口 嘉彦（東レリサーチセンター）
Backside SIMSによる有機ELの劣化評価 宮本 隆志（東レリサーチセンター）
NMRによる有機デバイス材料の評価 梶 弘典（京都大）
ESRによる有機デバイスの評価 ―キャリヤ輸送の微視的理解に向けて 長谷川 達生（産総研）
機能性有機材料の光電子分光および逆光電子分光 金井 要（岡山大）
走査型プローブ顕微鏡による有機薄膜FETの評価 小林 圭（京都大）

特に、学生の人は参加費3,000円とお得になっています。
参加申し込みの締切は6月12日（金）です。
こちらから参加申し込みできますので、皆さんこぞってご参加下さい。

※まだ、会場席数に余裕があるようです。

MN